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STC-LBS34CL-SWIR高速短波红外相机
STC-LBS34CL-SWIR是OMRON SENTECH家族的短波红外相机（SWIR）相机 ，搭载0.3M红外芯片SONY IMX991，分辨率高达640*512，帧速率达258fps，这款短波红外相机将高分辨率、高速和红外响应融合在一起，波长400-1700nm。并且支持硬件触发、局部扫描、相机参数编程控制等，易于开发和使用。
STC-LBS34CL-SWIR采用最新红外技术的砷化镓铟，可侦测的波长较长，超过1,000nm的光谱探测，可以同时接收可见光和SWIR短波红外，短波红外探测范围在400nm至1700nm之间，可用于全天候监视、温度监测，以及材料分选和缺陷检测等诸多应用。
主要技术参数：
♦ 黑白CMOS图像传感器
♦ 采用SONY IMX991芯片
♦ 分辨率640× 512
♦ 帧率258fps
♦ 高速快门设计
♦ 曝光时间可编程设置，触发方式可任意控制
♦ 支持外同步触发或软触发，可输出光源等控制信号
♦ 具有可变局部扫描或时钟速度控制
♦ 支持连续采集或触发采集方式
♦ 支持图像水平或垂直翻转
♦ ROI（用户自定义感兴趣区域）
♦ Binning，坏点矫正
♦ 不支持POCL供电
♦ 8位、10位或12位数据输出
♦ 6Pin Hirose连接器
♦ C-Mount镜头接口
♦ 外形尺寸：44 x44 x 90mm
♦ 支持VC、C#等多种开发环境，并提供相应的二次开发实例
♦ 提供Sentech实时图像显示、图像采集软件和全功能二次开发软件包
光谱曲线图：
此外，OMRON SENTECH还提供了网口版本STC-LBS34POE-SWIR和USB3.0版本STC-LBS34U3V-SWIR供用户选择。
应用领域：
满足科研院所、大学实验室的要求，为各种科学成像应用提供了先进的平台，属于显微成像、生物成像、医学成像、低照度成像、红外成像、高速成像的理想选择。
半导体检测 全天候户外监控
1100nm对硅材料的穿透性 透雾&烟
文物&艺术品&印刷品鉴定 塑料分选
穿透某些材料的特性 材料对不同波长光源的反射和吸收性不同
水果/粮食品质检测 激光光谱分析
瘀伤\腐坏检测 激光分析光斑特性
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产品型号
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STC-LBS34CL-SWIR
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产品系列
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短波红外相机
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生产厂商
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OMRON SENTECH
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产品类别
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短波红外相机
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成像设备
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CMOS
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彩色/黑白
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黑白
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分辨率
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640 × 512
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像元大小
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5μmx5μm
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传感器大小
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1/4"
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扫描方式
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逐行扫描
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帧率行频
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258fps
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光学接口
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C-Mount
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数据接口
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Cameralink
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光谱特性
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400-1700nm
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外形尺寸
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44×44×90mm
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其它
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宣传彩页
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文件名称
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文件类型
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/UpFiles/pdf/STC-LBS34CL-SWIR.pdf
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PDF
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驱动和程序
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用户手册
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PDF
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二次开发包
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